薄膜厚度測量儀可廣泛適用于薄膜及其他片狀材料的厚度測定，還可以檢測薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質和軟質材料厚度，是一款智能化效率高、實驗效率高、實驗準確度高的理想檢測設備。

　　采用激光測量位移差的方式，測量薄膜在一定張力下的表面平整度，并根據設定規則自動識別壞品。張力測量模塊由一個激光位移傳感器、驅動機構組成。通過可調張力張緊薄膜被測物后，驅動機構帶動位移傳感器橫向來回掃描，得到膜片橫向的高度差，根據轉換關系轉換成張力均勻性差異。

　　薄膜厚度測量儀的測量方法：

　　1、設置好的實驗參數、實驗次數等參數信息；

　　2、點擊開始試驗鍵，開始實驗；

　　3、不在測量頭與砧板間放置任何物體，點擊確定，測量頭自動落下后可與砧板直接接觸；

　　4、當測量頭再次抬起時，按照設備提示，將試樣放置在測量頭與砧板之間，點擊確定；

　　5、測量頭自動落到試樣表面進行測試，并顯示測試結果；

　　6、此后，可手動或由設備移動試樣，完成剩余測試；

　　7、保存并打印實驗結果。

　　實際使用過程中，由于環境溫度及濕度在不停變化，射線強度、射線感應器性能也隨時間緩慢漂移。要把該測量原理應用到工業場合，提高測量精度，需要在該模型中實時加入溫修補償機制。